近日，国工智能喜添国家知识产权局颁发的两项发明专利证书“一种基于聚类算法的色谱数据杂质定性分析方法及应用”和“一种基于蒙特卡洛树搜索的逆合成分析方法及设备”。

发明专利《一种基于聚类算法的色谱数据杂质定性分析方法及应用》

     本发明涉及一种基于聚类算法的色谱数据杂质定性分析方法及应用，属于杂质分析方法技术领域。在精细化工行业，生产过程质量控制重要的手段就是通过色谱仪检验得到色谱图判断杂质的数量和单个杂质的面积。由于精细化工行业产品种类多，小批次生产的原因造成每天都会产生大量需要检验的样品，大多数样品都要进行色谱仪检验，比如原料的杂质情况检测、生产过程的质量控制、成品质量控制等等，工作人员需要每天对色谱图中的峰图像进肉眼对比和杂质归类统计。本发明针对现有技术存在的不足，提供一种基于聚类算法的色谱数据杂质定性分析方法及应用，可以实现方便快捷的对杂，解决现在阶段对杂只能通过工作人员凭借历史经验对杂的问题，并且能够实现新杂、异常杂质的提醒预警及杂质趋势分析，有效提高工作效率。

发明专利《一种基于蒙特卡洛树搜索的逆合成分析方法及设备》

     本申请涉及计算机领域，具体涉及一种基于蒙特卡洛树搜索的逆合成分析方法及设备。逆合成分析是一种用来合成指定化合物的方法，它将目标化合物一步步分解为中间体或更简单的反应物，直到找到可购买的构建块。逆合成分析在传统上是通过基于手动编码规则的专家系统来实现的，这就导致其应用范围窄，且准确率较低。本发明针对现有技术存在的不足，通过本申请提出基于蒙特卡洛树搜索的逆合成分析方法来带来如下有益效果：通过设置的多个所需模型，以及得到的相似度得分，并对蒙特卡洛树搜索算法进行改进，可以有效提高生成出符合用户合成偏好路线的概率，并能够扩大应用领域，使其能够适应更多的化合物逆合成分析领域。